壓降測試儀

　　壓降測試儀是吸(xi)收(shou)國內外(wai)同類(lei)產(chan)品的優點(dian)，精心(xin)設(she)計研制而(er)成的壹(yi)種(zhong)能(neng)全自動(dong)測(ce)試電壓互(hu)感(gan)器(qi)二(er)次壓降/負(fu)荷(he)的智(zhi)能(neng)化(hua)儀器。它(ta)可以(yi)取(qu)代原(yuan)有的普(pu)通二(er)次壓降/負(fu)荷(he)測試儀的所(suo)有(you)功(gong)能(neng)，並且采用(yong)無線(xian)測試的方式(shi)，可(ke)完(wan)成三相(xiang)三線(xian)、三相(xiang)四(si)線(xian)不(bu)同方式(shi)互(hu)感(gan)器(qi)的二(er)次壓降的測(ce)試，大大提(ti)高(gao)了(le)安全性(xing)和可(ke)靠性(xing)，而(er)且精度(du)也能(neng)達(da)到有線(xian)測試的水(shui)平。廣(guang)泛用於(yu)測量開(kai)關(guan)觸點(dian)、繼(ji)電(dian)器(qi)、汽(qi)車開關(guan)、汽(qi)車線(xian)束、壓接(jie)線(xian)端子、連(lian)接器(qi)、不(bu)可重接(jie)插頭插銷與(yu)連(lian)接插頭引(yin)出線(xian)等類似(si)接(jie)線(xian)口的電(dian)壓降等相(xiang)關(guan)產品(pin)之(zhi)接(jie)觸電壓降或負(fu)載測(ce)量。

　　特點(dian)：

　　1、能(neng)自動(dong)檢測並存儲(chu)在(zai)各(ge)種(zhong)接線(xian)方式(shi)下(xia)由(you)測試導(dao)線(xian)等引起(qi)的測(ce)量(liang)誤(wu)差(cha)數(shu)據(ju)，並在以(yi)後測(ce)試中自動(dong)修(xiu)正。

　　2、內置(zhi)大容量充(chong)電電(dian)池(chi)組(zu)，在(zai)室外(wai)無220V交(jiao)流(liu)電(dian)情況下可由(you)儀器內電(dian)池(chi)組(zu)供(gong)電，內置(zhi)快(kuai)速(su)自動(dong)充(chong)電(dian)器(qi)，可對電(dian)池(chi)組(zu)快(kuai)速(su)充電。

　　3、大屏幕、高(gao)亮(liang)度(du)的液(ye)晶(jing)顯(xian)示，全漢字(zi)菜(cai)單及(ji)操作(zuo)提(ti)示實(shi)現友好的人機(ji)對話，觸摸按鍵使操作(zuo)更簡(jian)便(bian)，寬(kuan)溫(wen)液(ye)晶(jing)帶(dai)亮(liang)度(du)調(tiao)節，可(ke)適(shi)應(ying)冬(dong)夏各(ge)季(ji)。

　　4、用(yong)戶可(ke)隨(sui)時將測(ce)試的數(shu)據(ju)通(tong)過微型打印機(ji)將結果(guo)打印出來(lai)。

　　5、測(ce)試結果(guo)存(cun)儲(chu)功(gong)能(neng)，可存儲(chu)200組(zu)測(ce)試數據(ju)。

　　壓降測試儀操作(zuo)方法(fa)：

　　1.先(xian)進行(xing)壓降自校，現場運(yun)行(xing)時，常有(you)大電流(liu)，高(gao)電(dian)壓的存(cun)在(zai)，加(jia)之由(you)於現在PT側(ce)和儀表側的距(ju)離很(hen)遠(yuan)，所(suo)以要(yao)用放(fang)線(xian)車，放線(xian)車本身(shen)也(ye)會(hui)帶來(lai)壹定的誤(wu)差(cha)，所(suo)以(yi)要(yao)進行(xing)自校。

　　a.開(kai)機(ji)按任意(yi)鍵(jian)進(jin)入主菜(cai)單，選(xuan)擇壓降自校(選(xuan)擇方法(fa)：上(shang)下(xia)鍵可(ke)以(yi)移(yi)動(dong)光(guang)標(biao)，確(que)定鍵選(xuan)擇，取(qu)消(xiao)鍵退出。)。

　　b.選(xuan)擇三相(xiang)四(si)線(xian)自校。

　　c.儀器中的數(shu)據(ju)是(shi)上(shang)次(ci)或出廠(chang)時保(bao)存(cun)的壓降自校值，按確(que)定儀器就開(kai)始進(jin)行(xing)自校。

　　d.測(ce)試結束後(hou)，如(ru)果(guo)需(xu)要(yao)保存(cun)數據(ju)，按數字鍵“1"重新(xin)測(ce)量，按數字鍵“2"存儲(chu)。

　　e.關(guan)機(ji)拆(chai)線(xian)。

　　2.進(jin)行(xing)壓降測試

　　a.開(kai)機(ji)按“確(que)定"鍵入主菜(cai)單，選(xuan)擇壓降測試菜(cai)單，進(jin)入後選(xuan)擇測(ce)試方式(shi)(有(you)PT側和表計側，選(xuan)擇方法(fa)是(shi)光標(biao)移(yi)動(dong)到要(yao)選(xuan)擇的內容(rong)，按確(que)定鍵後在下(xia)拉(la)列表中按上(shang)下(xia)鍵移(yi)動(dong)光(guang)標(biao)，確(que)定鍵選(xuan)擇)，自校狀(zhuang)態(tai)(帶(dai)自校和不(bu)帶自校)選(xuan)擇將決定儀器是否(fou)減(jian)去(qu)自校時測(ce)試的現場誤(wu)差(cha)值。輸入各(ge)相(xiang)參(can)數(shu)。

　　b.光(guang)標(biao)移(yi)動(dong)到確(que)定上(shang)，按確(que)定鍵進入壓降測試選(xuan)擇菜(cai)單，選(xuan)三相(xiang)四(si)線(xian)自動(dong)測(ce)試，進入三相(xiang)四(si)線(xian)測試選(xuan)擇菜(cai)單，選(xuan)擇三相(xiang)自動(dong)測(ce)試。

　　c.如(ru)需(xu)重測(ce)，按數字鍵“1"即可。

　　d.如(ru)需(xu)存(cun)儲(chu)按數字鍵“2"即可。

　　e.關(guan)機(ji)，拆(chai)線(xian)。