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          密(mi)封測(ce)試(shi)儀(yi)的(de)操作步驟如(ru)下(xia)

          更新時間:2024-01-11點擊次數(shu):2063
            密(mi)封測(ce)試(shi)儀(yi)是(shi)為(wei)檢(jian)測(ce)各(ge)種包(bao)裝(zhuang)而(er)設(she)計(ji)開發的(de)壹(yi)種檢(jian)測(ce)儀(yi)器(qi),專(zhuan)門用於檢(jian)測(ce)包(bao)裝(zhuang)的(de)密(mi)封性(xing),亦可進(jin)行經跌(die)落(luo)、耐(nai)壓(ya)實(shi)驗(yan)後試件的氣(qi)密(mi)性測(ce)試(shi)。
           
            操(cao)作(zuo)人(ren)員(yuan)在使用前(qian)須(xu)了解(jie)密(mi)封測(ce)試(shi)儀(yi)的(de)使用方(fang)法,避(bi)免日(ri)後在使用中(zhong)操(cao)作錯(cuo)誤,造(zao)成(cheng)不必要(yao)的(de)損失(shi)和(he)人(ren)員(yuan)傷(shang)害,也(ye)將(jiang)大(da)大(da)降(jiang)低(di)了生(sheng)產(chan)效率(lv)。
           
            密(mi)封測(ce)試(shi)儀(yi)操(cao)作步驟如(ru)下(xia):
           
            1.將清水(shui)註(zhu)入真(zhen)空室(shi),其高(gao)度超過缸(gang)蓋(gai)上(shang)下(xia)壓板(ban)表面,為(wei)保(bao)證(zheng)密(mi)封效果(guo),在密(mi)封環上(shang)灑少許水(shui);
           
            2.蓋(gai)好(hao)真(zhen)空室(shi)的密(mi)封蓋(gai),旋(xuan)轉(zhuan)測(ce)試(shi)儀(yi)上(shang)的開(kai)關,調(tiao)整旋(xuan)鈕(niu),觀(guan)察(cha)真(zhen)空壓(ya)力表,將壓(ya)力調整(zheng)到所(suo)需(xu)的(de)穩定值;
           
            3.將(jiang)測(ce)試(shi)儀(yi)上(shang)的開(kai)關旋(xuan)轉(zhuan)到OFF位置,打開真(zhen)空室(shi)密(mi)封蓋(gai),將樣品(pin)浸入(ru)水(shui)中(zhong)。此時,樣品(pin)頂面(mian)與水(shui)面(mian)之間的距(ju)離(li)不應低(di)25cm;如(ru)果(guo)在測(ce)試(shi)過程中(zhong),確保(bao)能夠(gou)觀(guan)察(cha)到樣品(pin)各部(bu)分的(de)泄漏,那麽(me)壹次可以測(ce)試(shi)2個以上(shang)的樣品(pin)。
           
            4.蓋好(hao)真(zhen)空室(shi)的密(mi)封蓋(gai),將測(ce)試(shi)儀(yi)上(shang)的開(kai)關旋(xuan)轉(zhuan)到ON位置,並(bing)開始向(xiang)真(zhen)空室(shi)抽(chou)真(zhen)空;可調(tiao)真(zhen)空度取決(jue)於樣品(pin)的特(te)性(如(ru)所(suo)用包(bao)裝(zhuang)材(cai)料、密(mi)封等)或相(xiang)關產(chan)品(pin)標準(zhun)的規(gui)定(ding)。
           
            5.在抽(chou)真(zhen)空過程中(zhong)和達到預設真(zhen)空度後,根據樣品(pin)在真(zhen)空保(bao)存(cun)過程中(zhong)是(shi)否(fou)連續產(chan)生(sheng)氣(qi)泡(pao),壹(yi)個孤立的(de)氣(qi)泡(pao)壹(yi)般(ban)不(bu)視(shi)為(wei)泄漏;
           
            6.測(ce)試(shi)儀(yi)上(shang)的開(kai)關應旋(xuan)轉(zhuan)到OFF位置,排(pai)除真(zhen)空,打開密(mi)封蓋(gai),取出樣品(pin),用水(shui)擦(ca)洗(xi)袋(dai)表面,觀(guan)察(cha)袋(dai)表面的(de)損壞。
           

          密(mi)封測(ce)試(shi)儀(yi)

           

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