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        1. 技術(shu)文(wen)章

          TECHNICAL ARTICLES

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          影(ying)響氣(qi)密測(ce)試設備(bei)泄(xie)漏(lou)結果的幾(ji)點(dian)因(yin)素,妳可知道

          更(geng)新時間:2021-05-12點(dian)擊次數(shu):2480
             氣(qi)密測(ce)試設備(bei)主(zhu)要用於防(fang)水(shui)試驗和(he)密封試驗。單通道(dao)氣(qi)密性測(ce)試可以(yi)壹(yi)次測(ce)試壹(yi)個產(chan)品,多(duo)通道氣(qi)密性測(ce)試設備(bei)可(ke)以(yi)同時測(ce)試多個產(chan)品。相(xiang)對(dui)而言,效(xiao)率大大(da)提(ti)高(gao),人工(gong)成(cheng)本大(da)大降(jiang)低。
            裝置的氣(qi)密性是保(bao)證(zheng)實驗成(cheng)功(gong)的重(zhong)要因(yin)素之(zhi)壹(yi)。檢(jian)查(zha)氣(qi)密性的方法是:氣(qi)密性測(ce)試儀(yi)將(jiang)反(fan)應(ying)裝置的管(guan)端(duan)浸入(ru)水(shui)中,手(shou)掌貼(tie)在反(fan)應(ying)器的外(wai)壁上(或(huo)用酒精(jing)燈(deng)稍微(wei)加熱)。如果裝置不漏(lou)氣(qi),容器內(nei)的空(kong)氣(qi)受(shou)熱膨脹(zhang),氣(qi)泡(pao)會(hui)從(cong)管(guan)口逸(yi)出(chu);容器冷卻(que)後,水(shui)上升(sheng)到管(guan)道中形(xing)成(cheng)壹(yi)段水(shui)柱(zhu);如果設備泄(xie)漏(lou),就不會(hui)有氣(qi)泡(pao)。

          氣(qi)密測(ce)試設備(bei)

           

            影(ying)響(xiang)氣(qi)密測(ce)試設備(bei)泄(xie)漏(lou)結果的因(yin)素有下(xia)面(mian)這些:
            泄(xie)漏(lou)量(liang)是通(tong)過密閉(bi)腔體的壓力降和(he)腔體容積計算得出的,而壓力降的大(da)小(xiao)與(yu)檢(jian)測(ce)壓力、檢(jian)測(ce)時(shi)間有著(zhe)密切的關系,任(ren)壹(yi)參數的改(gai)變(bian)都(dou)會(hui)直接影(ying)響檢(jian)測(ce)結(jie)果。
            (1)檢(jian)測(ce)壓力
            工(gong)件(jian)泄(xie)漏(lou)是否(fou)合(he)格,應在(zai)相應(ying)標(biao)準(zhun)給(gei)出(chu)的檢(jian)測(ce)壓力下進行(xing)判斷(duan)。對(dui)於相(xiang)同尺寸(cun)的泄(xie)漏(lou),當(dang)檢(jian)測(ce)壓力變化(hua)時(shi),壓降也(ye)會(hui)隨之(zhi)變(bian)化(hua)。同樣,對(dui)於泄(xie)漏(lou)量(liang)較(jiao)小的工(gong)件(jian),在不同的檢(jian)測(ce)壓力下,泄(xie)漏(lou)量(liang)也(ye)會(hui)有所(suo)不同。
            (2)檢(jian)測(ce)時(shi)間
            檢(jian)漏(lou)儀(yi)的檢(jian)測(ce)過程分為充(chong)氣(qi)、平(ping)衡(heng)、檢(jian)測(ce)和(he)排(pai)氣(qi)四個部分。每(mei)個部分都(dou)需(xu)要時間設定,氣(qi)體(ti)達到穩定狀態後才能(neng)檢(jian)測(ce)。理(li)想(xiang)情(qing)況(kuang)下(xia),檢(jian)測(ce)時(shi)間越長(chang),泄(xie)漏(lou)檢(jian)測(ce)精(jing)度(du)越(yue)高。但(dan)在使(shi)用(yong)中,應根(gen)據(ju)實(shi)際(ji)情(qing)況(kuang)確定合理(li)的時(shi)間範圍,以(yi)保(bao)證(zheng)效(xiao)率。
            (3)檢(jian)測(ce)間隔(ge)時間
            根據(ju)理(li)想(xiang)狀態氣(qi)體(ti)方程(cheng)式(shi):
            PV=NRT,其中p是理(li)想(xiang)氣(qi)體(ti)的壓力;V—理想(xiang)氣(qi)體(ti)體積;N——氣(qi)態(tai)物(wu)質的量(liang);T—理(li)想(xiang)氣(qi)體(ti)的熱力學溫度(du)。氣(qi)體(ti)的壓力與(yu)體積和(he)溫度(du)有(you)關。在檢(jian)漏(lou)儀(yi)的檢(jian)測(ce)過程中(zhong),氣(qi)體(ti)被壓縮在(zai)密閉(bi)的腔體中(zhong),會(hui)導(dao)致(zhi)氣(qi)體(ti)溫度(du)升(sheng)高,溫(wen)度(du)的變(bian)化(hua)對(dui)微(wei)壓的檢(jian)測(ce)有(you)很(hen)大的影(ying)響(xiang),終(zhong)會(hui)影響(xiang)檢(jian)漏(lou)結果。因(yin)此,在使用氣(qi)密測(ce)試設備(bei)進行(xing)二次檢(jian)測(ce)時(shi),須(xu)等(deng)待(dai)壓差傳(chuan)感(gan)器(qi)和(he)氣(qi)路(lu)中的氣(qi)體(ti)恢復到(dao)原(yuan)來的溫(wen)度(du)和(he)變形(xing)狀態。由(you)於腔內(nei)氣(qi)體(ti)溫度(du)難(nan)以(yi)直(zhi)接檢(jian)測(ce),可(ke)增(zeng)加(jia)兩次檢(jian)測(ce)的間隔(ge)時間,保證(zheng)氣(qi)體(ti)恢復到(dao)原(yuan)始(shi)溫度(du)。

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