車載鏡(jing)頭氣密(mi)性測(ce)試儀主要由(you)壓力傳(chuan)感(gan)器(qi)、控制系(xi)統(tong)、充(chong)氣(qi)裝(zhuang)置(zhi)、密封(feng)模具等核(he)心組件構成(cheng)。其(qi)中，壓力傳(chuan)感(gan)器(qi)用(yong)於(yu)感(gan)知(zhi)密(mi)封(feng)腔(qiang)內(nei)的壓力值(zhi)；控制系(xi)統(tong)負(fu)責(ze)整個(ge)測(ce)試過(guo)程的監控和(he)數據(ju)采集；充(chong)氣(qi)裝(zhuang)置(zhi)用(yong)於(yu)向(xiang)密(mi)封(feng)腔(qiang)內(nei)充(chong)入(ru)壓縮空(kong)氣(qi)；密封(feng)模具則用(yong)於(yu)固(gu)定被(bei)測(ce)鏡頭並形(xing)成密(mi)封(feng)空(kong)間(jian)。氣密測(ce)試是(shi)通(tong)過(guo)檢(jian)測(ce)空(kong)氣(qi)或氣體泄漏(lou)來(lai)判(pan)斷物(wu)體密封(feng)性的方法。對於(yu)車(che)載鏡(jing)頭而言(yan)，良好(hao)的氣(qi)密性(xing)可以(yi)防(fang)止(zhi)灰(hui)塵(chen)、水(shui)汽等(deng)進入，從(cong)而保(bao)證其(qi)成像(xiang)質量(liang)和耐用(yong)性。車(che)載鏡(jing)頭氣密(mi)性測(ce)試儀的(de)具體測(ce)試過(guo)程：-充(chong)氣(qi)階段：將產品(pin)放(fang)入車(che)載攝(she)像(xiang)頭氣密(mi)性測(ce)試設備(bei)的(de)模具中，根(gen)據(ju)...

FAKRA氣(qi)密(mi)性(xing)測(ce)試儀作(zuo)為(wei)精密檢(jian)測(ce)設備(bei)，其(qi)測(ce)定步(bu)驟(zhou)和(he)使(shi)用(yong)註意(yi)事(shi)項需嚴(yan)格遵循規(gui)範(fan)以(yi)確(que)保(bao)結果的準確(que)性(xing)與(yu)操作(zuo)安全性(xing)：1.前(qian)期準(zhun)備(bei)階段-環(huan)境檢(jian)查：確(que)保(bao)設備(bei)遠(yuan)離(li)振動源、強磁場和腐(fu)蝕性氣(qi)體；氣源應使用(yong)幹燥(zao)無(wu)雜(za)質(zhi)的潔凈(jing)壓縮空(kong)氣(qi)(建議壓力範(fan)圍0.4-0.6MPa)。-設備(bei)檢(jian)查：確(que)認(ren)電(dian)源線、氣路連(lian)接牢(lao)固(gu)，傳(chuan)感(gan)器(qi)表(biao)面清(qing)潔(jie)無(wu)汙(wu)物(wu)；若(ruo)為初(chu)次使用(yong)或長期未(wei)用(yong)，需執(zhi)行校準(zhun)程序以(yi)驗(yan)證(zheng)儀器(qi)精(jing)度及(ji)穩(wen)定性(xing)。-工(gong)裝(zhuang)治具適配(pei)：根據(ju)被測(ce)產品(pin)的(de)幾(ji)何(he)形(xing)狀定(ding)制密封(feng)腔(qiang)體，保(bao)證產(chan)品(pin)固(gu)定後(hou)不(bu)存在(zai)額(e)外(wai)泄(xie)漏(lou)點；同時清(qing)潔(jie)產(chan)品(pin)表(biao)面異物(wu)，防(fang)...

TYPE-C防(fang)水(shui)測(ce)試儀內(nei)置(zhi)高精(jing)度傳(chuan)感(gan)器(qi)與(yu)算法相結合(he)，可提(ti)供(gong)準(zhun)確的數據(ju)支持(chi)，有助(zhu)於(yu)提(ti)升(sheng)產(chan)品(pin)質(zhi)量(liang)控制水平(ping)；用(yong)戶操(cao)作界(jie)面設計人(ren)性(xing)化(hua)，通(tong)常配(pei)備(bei)觸(chu)摸屏操(cao)作(zuo)面板，使得(de)整個(ge)測(ce)試流(liu)程變得(de)簡單直(zhi)觀(guan)，無(wu)需專(zhuan)業人(ren)員(yuan)即可快(kuai)速上(shang)手；可支(zhi)持根(gen)據(ju)不(bu)同產品(pin)的(de)特(te)定(ding)需求自(zi)定義(yi)設置(zhi)檢(jian)測(ce)參(can)數，壹(yi)臺(tai)設備(bei)即可適應多種類型的(de)產品(pin)測(ce)試，降(jiang)低企(qi)業的(de)檢(jian)測(ce)成本投入(ru)；相較於(yu)傳(chuan)統(tong)方法省去(qu)了繁(fan)瑣(suo)的(de)準備(bei)步(bu)驟，能(neng)夠(gou)實現(xian)即充(chong)即出結果，大大縮短了單個(ge)產(chan)品(pin)的(de)測(ce)試周(zhou)期，提(ti)高整體生產(chan)效(xiao)率；具備(bei)強大的數據(ju)存儲(chu)功能(neng)，所(suo)有(you)測(ce)試記錄均可保(bao)存在(zai)內(nei)部(bu)硬(ying)盤(pan)中，方...

連(lian)接器(qi)密(mi)封(feng)測(ce)試儀常采用(yong)的方法是氣壓差檢(jian)測(ce)，通(tong)過(guo)產生壹(yi)定(ding)的氣壓差來(lai)判(pan)斷是否(fou)存(cun)在(zai)泄漏(lou)。例(li)如(ru)，采用(yong)氣相法時，儀器(qi)會對被測(ce)件施(shi)加氣體壓力或(huo)抽(chou)真空(kong)，形(xing)成內(nei)外的(de)壓力梯(ti)度。若(ruo)試樣(yang)有泄(xie)漏(lou)點，則(ze)會發(fa)生氣(qi)體流(liu)動，導(dao)致壓力變(bian)化(hua)；而(er)負壓法則是將樣(yang)品(pin)置(zhi)於(yu)真空(kong)室(shi)內(nei)抽(chou)取(qu)空(kong)氣(qi)，使內(nei)部(bu)與(yu)外部(bu)形(xing)成負(fu)壓力環(huan)境，觀察(cha)是否有外界(jie)介質滲(shen)入以(yi)判(pan)斷密封(feng)效果。設備(bei)內(nei)置(zhi)高精(jing)度的(de)壓力傳(chuan)感(gan)器(qi)實時(shi)監控測(ce)試環(huan)境中的(de)壓力波(bo)動(dong)情況，並將數據(ju)傳(chuan)輸至(zhi)控制系(xi)統(tong)。控制系(xi)統(tong)結合(he)專(zhuan)業軟(ruan)件(jian)算(suan)法分(fen)析(xi)這些(xie)數據(ju)，從而(er)評估(gu)連(lian)接器(qi)的(de)密封(feng)性能(neng)是否(fou)達(da)標。支持(chi)預設參(can)數...

氣體檢(jian)漏(lou)儀能(neng)夠(gou)檢(jian)測(ce)到微小的氣體泄漏(lou)。例(li)如(ru)，采用(yong)超聲(sheng)波原(yuan)理(li)的檢(jian)漏(lou)儀可以(yi)檢(jian)測(ce)到泄(xie)漏(lou)率(lv)低(di)的微小泄漏(lou)點，其(qi)靈敏度可以(yi)達(da)到(dao)每分(fen)鐘(zhong)泄漏(lou)幾(ji)個(ge)毫(hao)升(sheng)甚(shen)至更少的(de)氣(qi)體量(liang)。對於(yu)壹(yi)些(xie)對(dui)氣(qi)體密封(feng)性要求(qiu)高(gao)的系(xi)統(tong)，如(ru)航空(kong)航(hang)天(tian)領域的(de)飛行(xing)器(qi)燃料系(xi)統(tong)、半導(dao)體制造(zao)中的(de)真空(kong)鍍膜設備(bei)等(deng)，這種高靈敏度能(neng)夠(gou)及(ji)時發(fa)現潛(qian)在(zai)的泄(xie)漏(lou)隱(yin)患，避(bi)免因(yin)氣體泄漏(lou)導(dao)致的(de)重大事故或生產(chan)質(zhi)量(liang)問題。現(xian)代(dai)氣(qi)體檢(jian)漏(lou)儀通(tong)常設計得(de)較(jiao)為(wei)人(ren)性(xing)化(hua)，操(cao)作簡單。許(xu)多便(bian)攜(xie)式檢(jian)漏(lou)儀只需(xu)開啟(qi)電源，將傳(chuan)感(gan)器(qi)靠(kao)近可能(neng)泄漏(lou)的(de)部(bu)位(wei)或(huo)者將檢(jian)測(ce)探頭連(lian)接到被檢(jian)測(ce)系(xi)統(tong)，就可以(yi)自(zi)動進行檢(jian)測(ce)...

密封(feng)性能(neng)測(ce)試儀采用(yong)傳(chuan)感(gan)器(qi)和(he)測(ce)量(liang)技術(shu)，能(neng)夠(gou)準確(que)地(di)測(ce)量(liang)產品(pin)的(de)密(mi)封(feng)性能(neng)，即使是微小的泄漏(lou)也(ye)能(neng)被檢(jian)測(ce)到，可準(zhun)確測(ce)量(liang)泄漏(lou)率(lv)，提(ti)供(gong)客觀的(de)數據(ju)支持(chi)，有助(zhu)於(yu)快(kuai)速解(jie)決(jue)相關問題；針對不(bu)同類型和(he)需求的(de)密(mi)封(feng)件和閥(fa)門(men)，可采用(yong)氣密(mi)性測(ce)試、水(shui)密(mi)性(xing)測(ce)試、泄(xie)漏(lou)測(ce)試、真空(kong)測(ce)試等(deng)多種測(ce)試方法，滿足各(ge)種不(bu)同產品(pin)的(de)測(ce)試需(xu)求(qiu)。能(neng)夠(gou)自(zi)動處理(li)和(he)分(fen)析(xi)數據(ju)，進壹(yi)步(bu)節(jie)省了時(shi)間(jian)和人工(gong)成(cheng)本，提(ti)高了(le)測(ce)試效(xiao)率(lv)，減(jian)少(shao)了(le)人(ren)為(wei)因素對測(ce)試結果的影響，保(bao)證了(le)測(ce)試結果的準確(que)性(xing)和(he)可靠(kao)性；在(zai)測(ce)試過(guo)程中，不(bu)會對被測(ce)產品(pin)造(zao)成(cheng)損(sun)壞，可對(dui)產品(pin)進行多次檢(jian)測(ce)，這對(dui)...